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国产芯片技术再突破!存储测试、晶圆抛光、光电耦合三大专利集中公布

2025-04-06
康芯威公布存储器固件下刷时间测试方法专利,提升数据下刷效率;奕斯伟推出可调节晶圆翘曲度的抛光头技术,优化晶圆抛光形貌;国星光电开发固晶正对式光电耦合器件,提高光传输效率。三家公司专利均涉及芯片制造或相关领域核心技术,反映国内半导体产业链技术突破。
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